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上海摩尔实验室成功举办“2009 CTA&OTA测试研讨会”

2009-04-22 13:30:01  来源:互联网  浏览次数:341  文字大小:【】【】【
关键字:CTA OTA OTA测试

    2009年4月21日下午,上海摩尔实验室在上海成功举办了“2009 CTA及OTA测试研讨会”。此次研讨会吸引了国内外几十家相关厂商、机构和协会的代表和嘉宾参加。

    本次研讨会的目的是为了让更多客户了解最新的中国手机进网(CTA)测试的政策变化和相关要求,以及针对这些变化所应采取的应对方案;会议同时还介绍了国内及国际OTA测试的相关标准和要求,使客户能了解到最新的政策变化,为企业的产品快速走向市场提供了第一手的信息来源和解决方案。与此同时,本次研讨会也为众多的参会厂商及机构提供了一个相互交流和展示的平台。

    研讨会期间,MORLAB的资深工程师对最新的CTA政策、OTA标准及测试要求进行了深入细致的讲解,并与摩尔实验室的相关专家一起,对嘉宾提出的具体需求和问题进行了一一解答。同时,上海MORLAB的工程师位还带领来宾参观了摩尔在上海的实验室。

摩尔实验室专家在回答提问

会场一角:来宾在认真听取专家讲解

    如需更多资料,请发信到以下邮箱info_sh@morlab.cn或致电021-51089899索取。

 

编辑:dragonh


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